ついに見えた！ファイバーの分散状態が材料設計のヒントに

材料の内部構造の観察方法には、試料を切断し、その断面を走査電子顕微鏡（SEM）や光学顕微鏡（OM）で観察する断面観察法と、レントゲン撮影やX線CT法のように非破壊で内部構造を観察する方法があります。
断面観察法の場合、綺麗な断面作製にはノウハウが必要であること、観察が一断面であるため連続的な内部構造を観察できない、などの課題がありました。
一方、 X線CT法の場合、透過観察像から立体像を再構成させることにより、非破壊で内部構造の連続的な観察ができる利点があります。しかし、従来のX線CT法（吸収イメージング法）は、密度の大きい材料に対してはX線が透過しにくい（吸収されやすい）一方で、軽い材料に対してはX線が透過しやすい（吸収されにくい）という特徴を利用しているため、携帯電話の内部構造観察のように金属と樹脂のような密度が大きく異なる材料の観察は得意でしたが、複合樹脂材料や生体材料など、密度が小さかったり、材料間の密度差が小さい複合材料の観察は不得手でした。両手法の違いを下図に示します。

当センターでは、外部研究機関とも連携し、このようなソフトマテリアルの内部構造可視化サービスをご提供しておりますので、ご興味のある方はぜひお問合せ下さい。

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