材料分析 Materials Analiysis

高温環境下での金属強度劣化の過程を可視化します

2021年3月30日

材料ソリューション部 無機分析課の森田です。

高温環境下に曝される金属部材の劣化が起きやすい、寿命が短くなるといったお困り事はございませんでしょうか?

この度、プロダクト解析センターでは、最新のSEM(走査電子顕微鏡)の内部で加熱(~1000℃)ができるシステムを導入致しました。

in-situ加熱EBSD測定により温度を変化させながら金属組織の変化を可視化致します。
これにより、金属材料の組織が温度によって、どのような変化を起こしているかを可視化可能となり、材料トラブルのメカニズム解明や選定などのエビデンスデータを取得できます。

材料開発やデバイス開発の加速に、是非ご活用ください。

●走査電子顕微鏡(SEM):JSM-7900F  ●加熱ステージ:HSEA1000

in-situ引張電子線後方散乱回折法(EBSD)

  • EBSD法は、結晶性の材料に電子線を照射して得られた回折パターンから結晶方位を解析し、試料表面の結晶方位マップを得ることができます。 
  • 試料に対して熱を加えた状態でEBSD測定を可能にする環境制御機構を備えたSEM試料ホルダを使用します。
EBSDの原理図
試料サイズ:5x7 0.5-1.0t mm 最高試料温度:RT- 1273K 温度測定:熱電対 最大電力: ~20W (at 1073K)  制御:PID or マニュアル 試料傾斜角度:70°

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