半導体用試験設備(電波暗室、シールド室)


電波暗室

項目

仕様

サイズ

W7.0m ×D4.0m × H2.7m

EUT用電源容量

CVCF:単相2kVA
直流安定化電源 最大35V/20A

その他

半導体EMC試験用
 TEMセル、GTEMセル保有

試験

仕様

主な規格

TEMセル法(EMI)

150kHz-1GHz,TEMセル(KTC1700)
150kHz-16GHz,GTEMセル(GTEM250)

IEC 61967-2
AEC-Q100
SAE J1752/3

1Ω法/150Ω法(EMI)

150kHz-30MHz(1Ω法)
150kHz-6GHz(150Ω法)

IEC 61967-4, JASO D019

IC stripline法(EMI)

150kHz-3GHz

IEC 61967-8

ESD(EMS)

気中・接触 ±15kV

ISO 10605

トランジェント(EMS)

Pulse1、Pulse2a、Pulse3a、Pulse3b

IEC 62215-3

シールド室

項目

仕様

サイズ

W4.0m×D2.3m×H2.4m

EUT用電源容量

直流安定化電源 最大35V/20A

その他

半導体EMC試験用
 TEMセル、GTEMセル保有

試験

仕様

主な規格

TEMセル法(EMS)

150kHz-6GHz, 1000 V/m(max)

IEC 62132-2

DPI法(EMS)

150kHz-6GHz, 37 dBm(max)

IEC 62132-4, JASO D019

IC-stripline法(EMS)

150kHz-3GHz, 3000 V/m(max)

IEC 62132-8

サービス紹介: