AEC-Q100に含まれるEMC試験はご存じでしょうか？

2024年5月14日

門真EMCサイトの坂上です。

AEC-Q100は車載向け半導体の信頼性試験の規格ですが、この規格に「ELECTRICAL VERIFICATION TESTS」としてEMC試験が含まれています。

対象となる半導体デバイスは、マイクロプロセッサなど高速デジタルIOを含むデバイスだけでなく、スイッチングレギュレータなどノイズを発生する可能性のあるデバイスが対象となります。

指定されているEMC試験法は自動車技術協会規格の「SAE J1752-3 – Radiated Emissions」となり、TEM cell、または、wideband TEM cellを使用した放射エミッションの試験法が記載されています。

弊試験所では「TEM cell」、「wideband TEM cell」の両方を所有しており、SAE J1752-3の試験が実施可能です。

なお、SAE J1752-3は、国際規格「IEC 61967-2 Measurement of radiated emissions TEM cell and wideband TEM cell method」と同等となります。

弊試験所は、IEC 61967-2規格について「ISO/IEC 17025」による認定を取得した試験所となり、ご依頼いただいているお客様からは、IEC 61967-2の認証レポートをご希望いただくケースが増えております。

各試験法では試験可能な上限周波数が異なり、
　TEM cell : 150 kHz – 1 GHz
　wideband TEM cell : 150 kHz – 8 GHz
となります。これらは被測定対象の半導体の動作によって選択します。

■認定試験所については下記を参照してください。
https://holdings.panasonic/jp/corporate/pac/emc/service/emc.html

試験を行うには、試験専用のプリント基板の設計と製造も必要となりますが、 弊部門にてプリント基板設計のサポートも可能です。

■評価基板設計については下記を参照してください。
https://holdings.panasonic/jp/corporate/pac/emc/service/semiconductor_foundation.html

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