半導体の故障解析

不具合の原因究明のためには、半導体の内部観察が必要な場合があります。 自社保有の半導体分析装置を用い、以下に示すフローに従って最適な手法を選定し、故障箇所の特定や、破壊メカニズムを推定を行います。

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