分析事例・技術情報

ナノ領域の化合物相分析（TEM-EDX多変量解析）

SEM-EDXによるアルミニウム合金のミクロ組織解析

加熱in-situ TEMによるナノ粒子触媒の劣化メカニズムの解明

Si基板表面状態の高分解能TEM像による評価

STEM-EELSを用いた赤外線レンズ用反射防止コートの解析

STEM-EELSによる電子基板電極の剥離原因の解明

微小部の結晶構造出来栄え評価

電子染色による樹脂材料中のゴム添加剤の可視化

WDXによる実装デバイスの定量分析

EBSD法による結晶方位マッピング解析

FIB-SEMによる3D構造観察技術

機能性高分子膜の冷却断面加工

BIB加工を用いた複合材料の断面構造観察

走査型プローブ顕微鏡(SPM)による表面形状と電流分布の計測

低加速STEM法による有機多層膜の観察

透過電子顕微鏡(TEM)によるナノ構造デバイスの解析

リターディング法による極表面SEM観察

偏光顕微鏡による樹脂溶着箇所の解明

はんだ接合部の出来栄え解析と信頼性コンサルティング

極低加速SEM観察による有機物汚染の評価（ボンディング不良原因の解明）

透過電子顕微鏡(TEM)によるBlu-rayディスクの記録マーク観察

めっき膜断面の結晶粒観察

非破壊観察による部品内部構造の調査

有機膜に埋もれた無機物の表面分析（Ar-GCIB使用）

表面の化学結合状態分析と仕事関数測定の連続測定

薄膜中ガス成分元素のnm深さ方向分析（D-SIMS）

微小部の表面元素分析と仕事関数測定の連続測定

材料微細部の軽元素分布の可視化（TOF-SIMS）

最表面（1～2nm）付着物の化学構造分析（TOF-SIMS）

10μmオーダーの微小部での仕事関数測定（電子放出性評価）

ガスクラスターイオン銃を用いたXPS深さ方向分析

TOF-SIMSを用いた表面付着物の分析

TOF-SIMSによるデバイスの多層構造解析

表面分析を活用したボンディング不具合原因解明

プラズマ処理による表面改質状態の分析

界面活性剤の構造解析

X線回折による結晶性ポリマーの配向状態の可視化

ケイ素材料の詳細構造解析

フェノール樹脂材料の詳細構造解析

EBSD法を用いた結晶方位・粒径解析による薄膜評価

絶縁性能把握のための酸化膜の欠陥量評価

樹脂の変色原因分析

腐食原因物質の特定と部材の寿命予測試験

プラスチック性能を左右する添加剤の分析

樹脂中の微量成分の同定（GC/TOFMS）

におい嗅ぎGC/MSによるにおい成分の詳細解析

におい原因物質の特定（GC/MS）

透明樹脂における短期間での耐光性能見極め

タンパク質の定量による生体汚れ評価

複合樹脂材料の組成分析2 （クロマトグラフ分離による微量成分の特定）

複合樹脂材料の組成分析1（溶剤分離による主成分・添加剤の特定）

顕微ラマン分析によるアクリル樹脂の硬化度評価

シリコン樹脂の酸化劣化評価

HPLCを用いた微量成分分析

ラジカル硬化樹脂の重合反応解析

GC/MSによる有機シロキサンの評価技術

微小異物分析による工程不良原因の特定

ESRによる活性酸素種の定量および抗酸化能評価

Py-GC/MS分析によるポリマー材料の組成分析

食品に含まれる色素の定量分析

JIS規格対応VOC評価とアウトガス分析

顕微レーザーラマン分析による微小点組成分析

アミノ酸の定量可視化

腐食性ガス（硫黄系ガス）の分析

腐食・有害性ガス（塩素系ガス）の分析

無機ガスの高感度定量分析（GC: BID法）

防湿材料・包装材料の透湿度測定（カップ法）

デバイス中の個別トランジスタの動作評価

TMAによる高温での線膨張係数の測定

接触角計による固体の表面自由エネルギーの測定

酸化誘導時間測定を利用した樹脂の劣化度評価

マイクロビッカースによるめっきの評価