電気安全試験
短絡開放試験（オープンショート試験）
電子回路搭載商品における、プリント基板上の電子部品両端を短絡（ショート）または、開放（オープン）状態にした時に、不安全現象などの異常状態が発生しないかを確認する試験。
試験の目的
部品及びプリント配線板の実装上の不具合、劣化、故障、又は異物の侵入により生じる電子回路 の短絡及び開放が生じた場合の安全性について評価します。
試験方法
- 回路図や部品表を用いて、一つの部品を短絡・解放した場合の故障モードを想定する
- 一つの部品を故障状態（短絡、開放）にし、試験を行う
- 試験は常温で行い、定格電圧を印可し機器を運転する
- 試験中は、異常が想定される電子部品の温度上昇や、電流、電圧を計測する
- 部品の温度上昇が飽和した定常状態になるまで、定格電圧を印加する
- 発煙、発火、破裂、危険な誤動作等の不安全現象の有無を確認する
